研究のための特別観覧について | 東京富士美術館（Tokyo Fuji Art Museum, FAM）

研究者・大学院生などの研究に資するために特別観覧の制度を設けています。
当館収蔵品の特別観覧に際しては事前の申請が必要です。

次のPDFをダウンロード・ご記入のうえ、お問い合わせフォームから申請してください。

特別観覧時の撮影画像利用許可の範囲

研究のための写真撮影および撮影画像の利用については、特別観覧の申請様式に記入された利用者、利用目的等に記載された内容に限定して許可いたします。申請の範囲を越えた利用あるいはその他の目的への転用が認められた場合は、利用許可を停止し、以降の申請を許可いたしません。

申請目的に関する資料

研究等の概要が分かる資料を添付してください。

申請書類の送付

特別観覧願、申請目的に関する資料を揃え、お問い合わせフォームの「問い合わせ目的」を「研究のための特別観覧申し込み」に設定し、添付のうえお申込みください。

なお、添付できるファイル数は、「特別観覧願」と「申請目的に関する資料」各1ファイルとなります。PDF、JPG、PNGのいずれかの形式でご用意ください。

確認後、こちらからご連絡いたします。